El espectrómetro de TXRF 8030c está habilitado para poder realizar medidas de GI-XRF por lo que dispone de la mecánica de variación angular y software de adquisición necesarios para poder realizar estudios de contaminación superficial en láminas de cualquier material dentro de un rango de -500 nanómetros a +500 nanómetros a lo largo de z sobre la superficie estudiada. en particular el mayor interés se encuentra en el estudio de wafers de Si, láminas de vidrio utilizadas como soportes de metales o láminas de materiales poliméricos utilizados actualmente en tecnología optoelectrónica.
El Espectrómetro de TXRF 8030C consta de:
- Ordenador de control
- Detector SDD y electrónica de adquisición
- Intercambiador automático de hasta 54 muestras
- 1 Transformador de HV Seifert Isodebye-Flex ID 3003 (60 kV, 80 mA, 3 kW)
- 1 Fuente de Rayos X de ánodo mixto (Mo/W)
- Laboratorio
- Laboratorio de Fluorescencia de Rayos X por Reflexión Total (TXRF)
- Unidad de análisis
