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Seguimiento y Calidad del Título

El Máster en Materiales Avanzados, Nanotecnología y Fotónica está sujeto al Sistema Interno de Garantía de Calidad (SIGC) de la Facultad de Ciencias de la UAM.

Documentación del Título

Competencias

Indicadores de resultados 

Indicadores de profesorado 

Seguimiento interno (Acciones de mejora)

Página del Máster en la web del Centro de Estudios de Posgrado de la UAM (ver sección “Seguimiento y calidad”): Documentos de Verificación y Acreditación; Plan de Estudios (BOE); Datos en RUCT.

Comisión de Coordinación y Seguimiento

Dra. Raquel Caballero (PDI, Coordinadora del Máster, Dpto. de Física Aplicada)

Dr. Herko van der Meulen (PDI,  Dpto. de Física de Materiales)

Dr. Raúl Martín Palma (PDI, Director del Departamento de Física Aplicada)

Dr. Luis Viña Liste (PDI, Director del Departamento de Física de Materiales)

Dr. Manuel Marqués Ponce (PDI, Departamento de Física de Materiales)

Dr. Basilio García Carretero (PDI, Departamento de Física Aplicada)

Antonio Bravo (PAS, Dpto. de Física de Materiales)

Delegado/a de los estudiantes

  • Informe Empleabilidad Egresados. External Link. Open a new window

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